攝像頭測(cè)試方案:攝像頭測(cè)試項(xiàng)目和攝像頭測(cè)試設(shè)備
點(diǎn)擊:14203 日期:2015.05.26
【摘要】攝像頭測(cè)試是非常專(zhuān)業(yè)的項(xiàng)目;下面列出常見(jiàn)的攝像頭測(cè)試項(xiàng)目和攝像頭測(cè)試設(shè)備,部分測(cè)試項(xiàng)目和測(cè)試設(shè)備本站有專(zhuān)業(yè)介紹,點(diǎn)擊銜接可以查看詳細(xì)介紹。
一、對(duì)于鏡頭的測(cè)試項(xiàng)目
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雜光(儀器DNP VIEWER 和EIAJ test chart F)
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Resolution 解析度(Light Box 和ISO 12233 chart)
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Distortion 畸變(儀器DNP VIEWER 和EIAJ test chart I)
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Flare (點(diǎn)光源都能測(cè)試)
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Light leaking 漏光(A light source)
二、對(duì)于CMOS Image Sensor 的測(cè)試項(xiàng)目
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AWB 白平衡( Light box 和GretagMacbeth ColorChecker 和IMATEST)
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Gray 灰階(Light box 和KODAK testing card)
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動(dòng)態(tài)范圍(Light box 和ISO14524 動(dòng)態(tài)范圍測(cè)試卡)
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AE 曝光收斂范圍(Light source Box)
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色彩還原Color (DNP ,color bar,IMATEST)
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工頻干擾Flicker (50,60 HZ 光源)
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暗角測(cè)試Lens shaing ( 另一種說(shuō)法是相對(duì)照度, Relativeillumination,一般直接對(duì)著DNP看就行)
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壞點(diǎn)&黑點(diǎn)測(cè)試(defect pixel and particle,iSeetest有查找壞點(diǎn)的功能)
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信號(hào)噪點(diǎn)比(SNR,用IMATEST可以得到精確數(shù)值)
三、攝像設(shè)備測(cè)試可能用到下列測(cè)試設(shè)備
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標(biāo)準(zhǔn)光源燈箱
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透射式燈箱
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色溫照度計(jì)
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分光式色度計(jì)
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反射式光密度計(jì)
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幀頻測(cè)試儀
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放大鏡
四、測(cè)試圖卡
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分辨率測(cè)試圖卡
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色彩測(cè)試圖卡
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幾何失真測(cè)試圖卡
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灰階測(cè)試圖卡
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中性灰測(cè)試圖卡
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全白測(cè)試圖卡
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